高溫旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)箱此類設(shè)備非常符合汽車電子工廠U行生產(chǎn)線、小型線的布局，在生產(chǎn)工藝上滿足One-piece-Flow（OPF）單件流的要求。能zui大程度上縮短生產(chǎn)提前期、減少工作占地面積、減少庫存和在制成本，是目前精益生產(chǎn)的主推設(shè)備之一。尤其是針對汽車ECU、ABS傳感器等我司擁有豐富的設(shè)計(jì)和制造經(jīng)驗(yàn)。

更新時(shí)間：2023-10-13

低溫旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)箱此類設(shè)備非常符合汽車電子工廠U行生產(chǎn)線、小型線的布局，在生產(chǎn)工藝上滿足One-piece-Flow（OPF）單件流的要求。能zui大程度上縮短生產(chǎn)提前期、減少工作占地面積、減少庫存和在制成本，是目前精益生產(chǎn)的主推設(shè)備之一。尤其是針對汽車ECU、ABS傳感器等我司擁有豐富的設(shè)計(jì)和制造經(jīng)驗(yàn)。

更新時(shí)間：2023-10-13

高低溫旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)箱此類設(shè)備非常符合汽車電子工廠U行生產(chǎn)線、小型線的布局，在生產(chǎn)工藝上滿足One-piece-Flow（OPF）單件流的要求。能zui大程度上縮短生產(chǎn)提前期、減少工作占地面積、減少庫存和在制成本，是目前精益生產(chǎn)的主推設(shè)備之一。尤其是針對汽車ECU、ABS傳感器等我司擁有豐富的設(shè)計(jì)和制造經(jīng)驗(yàn)。

更新時(shí)間：2023-10-13

高低溫分體試驗(yàn)箱該產(chǎn)品可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程的高低溫輸送，可以適用不同的形狀的試驗(yàn)區(qū)，也可以實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用；用于檢測汽車零部件在動(dòng)態(tài)情況下的試驗(yàn)性能。

更新時(shí)間：2023-10-12

多門高溫老化箱是對汽車儀表盤，車燈進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn)的非破壞性試驗(yàn)。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實(shí)際使用時(shí)產(chǎn)品的可靠性水平，本試驗(yàn)箱能提供自動(dòng)檢測獨(dú)立溫控區(qū)間的檢測手段，較大的提高測試效率。

更新時(shí)間：2023-10-12

多門高溫老化試驗(yàn)箱是對汽車儀表盤，車燈進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn)的非破壞性試驗(yàn)。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實(shí)際使用時(shí)產(chǎn)品的可靠性水平，本試驗(yàn)箱能提供自動(dòng)檢測獨(dú)立溫控區(qū)間的檢測手段，較大的提高測試效率。

更新時(shí)間：2023-10-12

儀表盤高溫老化試驗(yàn)箱是對汽車儀表盤，車燈進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn)的非破壞性試驗(yàn)。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實(shí)際使用時(shí)產(chǎn)品的可靠性水平，本試驗(yàn)箱能提供自動(dòng)檢測獨(dú)立溫控區(qū)間的檢測手段，較大的提高測試效率。

更新時(shí)間：2023-10-12

儀表盤高溫老化箱是對汽車儀表盤，車燈進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn)的非破壞性試驗(yàn)。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實(shí)際使用時(shí)產(chǎn)品的可靠性水平，本試驗(yàn)箱能提供自動(dòng)檢測獨(dú)立溫控區(qū)間的檢測手段，較大的提高測試效率。

更新時(shí)間：2023-10-12